国星之光大讲堂第四讲

LED产品在生产和使用各阶段往往会受到各种应力、环境等因素的影响，达不到预期的寿命和功能，即发生失效现象。LED失效分析作为一门新兴发展中的学科，是产品生产、研发和应用中的重要技术，深刻理解LED失效分析技术对LED产品的生产和使用意义非凡。

为了帮助研发人员掌握先进的失效分析手段，学习先进的失效分析方法，6月9日，“国星之光大讲堂”邀请了公司研究院朱昕博士作“LED失效分析与案例分享”专题授课，公司研究院、各事业部及国星半导体共计七十余人参加了此次培训。

朱昕博士从失效分析的基本概念出发，重点围绕LED产品的芯片失效、封装失效、内应力失效、电应力失效、装配失效的失效模式与失效机理，以及LED产品的实际失效案例对LED产品在生命周期的各个阶段发生失效的原因做了全方位的精彩讲解。

提问环节，学员们对实操中常遇到的问题或困难，如器件过压或过流、环氧树脂开裂、银浆分层等提出疑问。朱昕博士结合自身在LED失效分析领域的丰富经验一一做了详细的解答，学员们纷纷表示此次讲座获益匪浅、收获颇丰！

国星光电始终坚持创新驱动发展战略，围绕“五新”改革发展总思路，着力提升创新实力和综合竞争力，公司特别聚焦共性技术难题攻关和标准化与可靠性工程研究，为此也搭建了失效分析共性平台，建立了半导体元器件失效分析团队，协助各方解决可靠性等技术难题，进一步助推了国星光电夺取高质量发展新胜利！